概要

ITC57300动态参数测试系统主机能配搭不同的测试头对半导体器件如MOSFTs, IGBT, Diodes和其他Bipolar devices 双极器件(需另配额外偏置电源和订制个性板)等进行非损毁性的测试。主机包含了所需的各项测试仪与软件, 用于测试与分析阻性/感性开关时间，开关损耗，栅电荷，Trr/Qrr 和其他等测试。

各个测试头虽然设计不同，但都能简单快速的安置于主机上。各测试头虽为某个参数测试而设计，但其搭配的个性板能重新装配测试头以配合不同类别的器件，封装型号和器件电路等。

功能

· 测试电压：最高1200V Vdc, 200A (短路测试 Isc 最高:1000A)

· 时间测量：最小１ns

· 漏电流极限监视

现有测试头

ITC57210 - 功率器件MOSFETs, P和N沟道开关时间测试头，美军标MIL-STD-750, Method 3472.

ITC57220 - 功率器件MOSFETs 及二极管反向恢复Trr/Qrr测试头, 美军标MIL-STD-750, Method 3473.

ITC57230 - 功率器件MOSFETs 栅电荷测试头, 美军标MIL-STD-750, Method 3471.

ITC57240 - IGBT 感性负载开关时间测试头, 美军标MIL-STD-750, Method 3477.

ITC57250 - 短路电流耐量测试头, 美军标MIL-STD-750, Method 3479.

ITC57260 - 结电容/栅极等效电阻测试头, 标准 JEDEC Standard JESD24-11