SA晶体测试系统250B-2

美国SAUNDERS公司已推出革命性之晶体测试设备　S&A250B-2晶体测试系统。S&A250B-2拋开了传统概念，以高科技SMD技术，将硬体浓缩成板卡置入电脑内，软体功能更是发挥超快速量测之极至。以下为S&A250B网路分析仪的优异性能：

1.超快量测速度:一般参数量测只需0.1秒(< 100m秒)，DLD量测100个点只需1秒
(10m秒/点)。寄生振荡有多种扫描型式: Normal，Wide，Hi-Q X’tal，Ceramic Resonator，X’tal Blank，一般寄生振荡量测只需0.3秒。

2.三种FL量测方式:计算法Calculated FL，仿真法Measured FL，实体电容法Physical load FL。

3.使用Window作业平台操作方便，全功能图解软体，可量测晶体及陶瓷谐振器；尔后在现有硬体基础上，再选配升级软体即可量测晶体滤波器。

4.采用PC板卡插入电脑；两通道量测配上不同测试座，可交替量测SMD及Leaded晶体产品。

5.量测资料可立即输出(采开放式资料库联机ODBC格式)供即时监控及分析用。

6.可做频率及功率的扫描(如350A, 350B的Sweep & Plot功能)。

7.系统在1MHz以上使用时,校正速度快,短路, 50Ω及开路校正袛需30秒。

8.新增低频晶体量测;运用150KΩ测试座,配合低频量测软体,可提升低频晶体量测精度与速度. 如32.768KHz表晶量测。

规格:

1.量测频率范围:

.15KHz~220MHz.。

2.频率比对精度：

±1PPM在串联谐振。

3.晶体功率:

0.1nW~1000μW (≦50 MHz)

0.1nW~500μW (>50MHz)

4.通道: A, B双通道量测。

5.电脑选型: Pentium 4，Win10 Pro

带+5V及3.3V电源，PCI卡槽电脑。